缺陷回波高度法在确定的探测条件下，缺陷尺寸愈大，反射声压愈（ ），缺陷回波愈高。

问答题

缺陷回波高度法在确定的探测条件下，缺陷尺寸愈大，反射声压愈强，缺陷回波（ ）。

答案解析

问答题

缺陷回波高度法在确定的探测条件下，缺陷尺寸愈大，反射声压愈（ ），缺陷回波愈高。

答案解析

单选题

影响缺陷回波高度的因素有 ( )。

答案解析

单选题

以相同的探伤灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，同处深度200mm的缺陷回波高度也一样，则两者的缺陷（ ）。

答案解析

单选题

用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其 回波降至屏高的50％，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至 此高度时衰减器读数是40dB则（）。

答案解析